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電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產(chǎn)品概述 多功能原子力顯微鏡平臺,滿足納米級測量的需求 原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機器性能測量的能力。 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM). 倒置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
高阻抗(T歐級)涂層測試儀- 腐蝕電化學的產(chǎn)品概述 PGU IMP Micro是為德國弗勞恩霍夫陶瓷技術和系統(tǒng)研究所(Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme,IKTS)特殊設計的。在IPS愛譜斯標準阻抗恒電位儀PGU 10V-1A-IMP-S的基礎上升級成一個可靠測量高阻抗的恒電位儀PGU IMP Micro。
產(chǎn)品概述 此系統(tǒng)統(tǒng)合了電解池內(nèi)的腐蝕性解質(zhì)的腐蝕、機械拉伸和疲勞測試,以及外加的電化學腐蝕(施加或者測試),全面模擬評估了材料在使用環(huán)境下的腐蝕性研究。 電化學拉伸和疲勞測試儀